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扫 描 电 子 显 微 镜
仪器编号
200120050S
规格
组装
生产厂家
日本电子株式会社
型号
组装
制造国家
(392)日本
分类号
03040155
放置地点
19号楼科技馆一单元（光电）112
出厂日期
2001-11-01
购置日期
2001-11-01
入网日期
2021-10-21
主要规格及技术指标
HV方式： 分辨率（SEI）：3.0nm（Acc.V30kV，WD8mm）
放大倍数：18~300000
图像方式：SEI，BEI
探测电流： 10pA~10μA
LV方式： 分辨率（BEI）：4.5nm（Acc.V30kV，WD8mm）
样品室气压：可调准气压10~270Pa
最低气压：1Pa
图像方式：3种BEI方式（Composition Topographic and shaded image）
主要功能及特色
1． 二次电子图像、背散射电子图像，材料、生物、矿物、半导体等样品的形貌；金相样品、断口样品的表面形貌观察；空间分辨率亚微米级，晶界的状态测量，晶体/晶粒的相鉴定，晶体、晶粒取向测量等。
2． 元素定量、定性成分分析，实时微区成分分析，快速的多元素面扫描和线扫描分布测量
主要附件及配置
JED-2300型能谱仪
| 公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
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