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透射电子显微镜
仪器编号
2004701800
规格
生产厂家
日本电子株式会社
型号
JEM-2010
制造国家
(392)日本
分类号
03040701
放置地点
19号楼科技馆一单元（光电）114
出厂日期
2004-02-20
购置日期
2004-02-20
入网日期
2021-10-21
主要规格及技术指标
点分辨率： 0.194nm
条纹分辨率： 0.14nm
加速电压： 80，100，120，160，200kV
放大倍数： 放大模式 2×1000~1.5×1000000
低放大模式 50~ 6×1000
选区放大模式 8×1000~8×100000
相机长度： 0.4，0.8，1.2，1.6，2.0m
倾转角度： ±15°
束斑尺寸： L模式20~400nm S模式 1.5~50nm
主要功能及特色
衬度清晰的样品形貌像；
高分辨电子显微图像，可获得晶体的一维晶格条纹像、二维晶格点阵像和原子结构像；
电子衍射花样，可获得晶体不同取向的电子衍射花样
主要附件及配置
无
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