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半导体特性测试仪
仪器编号
2009267800
规格
20W 0.1fA
生产厂家
美国KEITHLTY
型号
4200-SCS/F
制造国家
(840)美国
分类号
03190401
放置地点
9号楼学院组合群楼（药学楼）B202室
出厂日期
2022-10-31
购置日期
2022-10-31
入网日期
2021-10-21
主要规格及技术指标
型号：4200-SCS/F
制造商：Keithley
类型：半导体参数分析仪，用于器件 I-V、C-V 特性测试
结构：模块化设计，9 个插槽，可配置多种测量模块
尺寸：223mm × 436mm × 565mm（H×W×D）
重量：约 29.7kg（典型 4 个 SMU 配置）
电源：100-240V，50/60Hz（自动检测电压）
主要功能及特色
4200-SCS/F 是一款高性能半导体参数分析仪，具备同步 I-V/C-V/ 脉冲 I-V 测量能力，提供亚 fA 级电流分辨率(最低 0.1fA) 和宽电压范围(±210V)。模块化设计支持灵活配置，内置 PC 提供实时数据分析与图表显示。其超快速测量(最高 100,000 点 / 秒) 和精准控制能力，特别适合纳米器件、先进半导体材料表征和可靠性测试，是研发与生产测试的理想选择。
主要附件及配置
配件主要为线材
| 公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
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